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Nanoscopic Anaylsis

SNOM-Aufbau mit SIL im Mikroskop Witec alpha300

Atomic Force Microscopy (AFM)
Scanning Nearfield optical Microscopy (SNOM)
Scanning Nearfield Optical Spectroscopy (SNOS)

Unser einzigartiges, multimodales Mikroskopiesystem ermöglicht AFM, SNOM und SNOS in verschiedenen Modi und Kombinationen:
- Verwendung von aperturlosen Sonden (SIL) oder aperturbasierten Sonden (Pinhole-Pyramiden)
- Messung in Reflexion oder in Transmission
- SNOS: VIS-, NIR-, Raman-, Rückstreu- und Fluoreszenz-Spektroskopie

Die Kombination von AFM-, Nahfeld- (SNOM, SNOS) und Fernfeld-Techniken (z.B. Raman Imaging, konfokale Mikroskopie) auf demselben Gerät erlaubt es uns, dieselbe Probenposition mit verschiedenen Messaufbauten zu analysieren.